电子元器件检测

电子行业检测案例展示

X射线 - 三维CT案例展示

CT技术扫描可以还原产品内部详细情况，做到与设计图高度相似，扫描完成之后，经过实验室处理，可以得到完整的立体的数据，从而更加容易得看到缺陷和失效情况

X射线 - 二维检测

英华实验室的X射线设备可以满足大多数电子零件的微米及纳米检测需求，在预生产前期，可以对样件进行X射线扫描，及时发现不合格的零件，扫描结果形成检测报告作为客观参考，以此改进生产工艺；在产品召回后期，对于结构复杂的零件，X射线可以进行筛选排查，把不合格的产品剔除，尽可能做到挽回损失。

芯片内部情况二维展示

芯片内部连接线断裂情况的二维成像，图中可以明显辨认出有缺陷的连接线

锡球焊点开路：锡膏和锡球未融合成一体，以此判断为失效件